Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

Целью данного курса является ознакомление с теоретическими и экспериментальными основами рентгеноструктурного анализа поликристаллических материалов. Рассматриваются физические основы дифракции рентгеновских лучей на кристаллических объектах, выводятся основные закономерности, связывающие структурные параметры исследуемого объекта с параметрами его дифракционной картины, излагаются методические основы рентгеновского дифракционного эксперимента. Проводится лабораторный практикум по развитию практических навыков по расшифровке дифрактограмм, качественному и количественному рентгеновскому фазовому анализу двухфазных кристаллических систем, определению размеров ОКР и микронапряжений в кристаллах по ширине дифракционной линии. 

Учебный курс «Рентгеноструктурный анализ поликристаллов» состоит из дистанционной и очной частей.
Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объёмом знаний по выбранной тематике, включая подготовку слушателя к проведению лабораторного практикума. Задача дистанционной составляющей учебного курса – подготовить слушателя к очному посещению лаборатории в Казанском государственном техническом университете им. А.Н. Туполева.
В дистанционной (теоретической) части учебного курса изложены теоретические, физические и экспериментальные основы метода РСА поликристаллов, являющегося одним из основных и традиционных методов исследования структуры поликристаллических тел. Теоретическая часть учебного курса состоит из пяти лекций.
Очная (экспериментальная) часть учебного курса заключается в изучении методик определения основных структурных характеристик поликристаллических образцов методом РСА с использованием дифрактометра. Основные задания на лабораторный практикум:
- расшифровка дифрактограммы и идентификация кристаллического вещества;
- качественный рентгеновский фазовый анализ двухфазных кристаллических систем;
- количественный рентгеновский фазовый анализ двухфазных кристаллических систем
- определение размеров ОКР и микронапряжений в кристаллах по ширине дифракционной линии.
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • НОЦ
  • Автор(ы)
  • Направления программ повышения квалификации

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение