Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов

Учебный курс ««Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов»  предназначен для краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению  «Методы диагностики и исследования наноструктур».

Целью данного курса является: ознакомление с современными методами электронной , ионной микроскопии, спектральных методов для определения структуры и элементного (химического) состава материалов, пленок, покрытий, приобретения практических навыков в области анализа состояния и физико-химических свойств материалов, пленок и покрытий, наноразмерных систем.

Материалы курса знакомят с физическими закономерностями взаимодействия электронного, ионного и рентгеновского излучения с твердым телом, на основании которых реализованы современные методы изучения структурно-фазового состояния и химического состава материалов – просвечивающая электронная, растровая ионная и электронная микроскопия, вторичная ионная масс-спектрометрия, электронная спектрометрия, рентгеновский спектральный анализ.
В курсе рассматриваются основные конструктивные решения и современное аппаратурное обеспечение для реализации этих методов, особенности их применения, информативность и достоверность результатов исследований при изучении материалов, пленок, покрытий, наноразмерных структур.

Для закрепления приобретенных знаний в курсе предусмотрены самостоятельные и практические (лабораторные) работы на современных приборах.

Учебный курс «Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов»состоит из дистанционной и очной частей.
Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объёмом знаний по выбранной тематике, включая подготовку слушателя к проведению лабораторного практикума. Задача дистанционной составляющей учебного курса – подготовить слушателя к очному посещению лаборатории в Национальном Исследовательском Ядерном Университете “МИФИ”.
В дистанционной (теоретической) части учебного курса изложены физические основы фундаментальных знаний и обоснование применения электронно-микроскопических и спектральных методов для изучения структурного состояния и химического состава материалов, пленок, покрытий (возможность, информативность, принципиальные ограничения методов). Теоретическая часть учебного курса состоит из трёх независимых модулей, каждый из которых содержит три лекции.
Очная часть настоящего курса состоит из трёх лабораторных модулей по числу дитанционных трёх модулей.
Лабораторная работа № 1 «Просвечивающая электронная микроскопия» выполняется на микроскопе Libra 120, ф.Carl-Zeiss (4 часа).
Лабораторная работа № 2 «Растровая электронная микроскопия» выполняется на микроскопе EVO-50, ф.Carl-Zeiss (4 часа).
Лабораторная работа 3. «Рентгеновский спектральный анализ» выполняется на приборах для макроанализа (СПАРК) и микроанализ (растровый электронный микроскоп EVO-50, ф. Carl-Zeiss. (4 часа).
Самостоятельная работа, подготовка к лабораторным работам, написание рефератов (6 часов).
  • Краткое содержание
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • НОЦ
  • Автор(ы)

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:

    Наименование
    Лекция 1. Возможности и перспективы применения электронной микроскопии в материаловедении. Основы электронной оптики
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 1. Просвечивающая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 2. Конструкция оптической колонны ПЭМ. Интерпретация изображения и дифракционной картины в ПЭМ
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 1. Просвечивающая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 3. Методы ПЭМ. Техника приготовления образцов для исследования в ПЭМ
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 1. Просвечивающая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 1. Конструкция растрового электронного микроскопа
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 2. Растровая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 2. Основы формирования изображения в РЭМ
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 2. Растровая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 3. Типы и особенности конструкции РЭМ
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 2. Растровая электронная микроскопия (12 часов)
    Лекция 1. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 3. Спектральные методы исследования материалов (12 часов)
    Лекция 2. Рентгеноспектральные методы анализа состава материалов
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 3. Спектральные методы исследования материалов (12 часов)
    Лекция 3. Особенности применения методов для изучения состояния материалов.
    / МИФИ / Электронно-микроскопические и спектрометрические методы для анализа структуры материалов / Модуль 3. Спектральные методы исследования материалов (12 часов)


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение