Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию

Учебный курс «Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию» предназначен для краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению  «Методы диагностики и исследования наноструктур».

Целью изучения курса является получение фундаментальных знаний в области электронно-спектроскопических исследований свойств наноматериалов – области знаний, имеющей большое значение для современного материаловедения, физики наноразмерных и молекулярных структур, физики и химии конденсированного состояния и тонких пленок. Задачи курса состоят в изучении методики проведения экспериментов при помощи РФЭС, отличительных особенностей и физических принципов РФЭС, изучении качественного и количественного анализа РФЭ спектров.

Учебный курс «Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию» состоит из дистанционной и очной частей.

Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объёмом знаний по выбранной тематике. Задача дистанционной составляющей учебного курса – подготовить слушателя к очному посещению лаборатории в Московском инженерно-физическом институте.

В дистанционной (теоретической) части учебного курса изложены физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС). Теоретическая часть учебного курса состоит из девяти лекций.

Очная (экспериментальная) часть учебного курса заключается в ознакомлении со спектрометром XSAM-800 и программой обработки РФЭ спектров. Обзорные спектры. Идентификация элементов. Фитирование спектров остовных уровней. Основные задания на лабораторный практикум:

1. Установить и научиться работать с программой просмотра и обработки спектров Viewer на примере выданного файла обзорного и частичного спектров пленки молибдена, осажденной на поверхность высокоориентированного пиролизного графита (Mo/ВОПГ). Научиться определять положение спектральных линий, фиттировать спектральные линии функцией Гаусса, определять их основные характеристики (интенсивность и ширину на полувысоте).
2. Для выданного обзорного спектра неизвестного элемента/соединения определить найти наиболее интенсивные спектральные линии, определить их положения (ВЕ или КЕ), с помощью прилагаемых таблиц или баз данных в интернете идентифицировать данные пики. По совокупности данных определить, из каких элементов состоит неизвестный образец и предложить его состав (например, металлическая медь со адсорбированным на ее поверхности слоем углерода и кислрода, оксид кремния, и.т.д.)
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • Пройти курс
  • НОЦ
  • Автор(ы)
  • Направления программ повышения квалификации

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:

    Наименование
    Лекция 1: Введение в методы исследования наноструктур и поверхностей твердых тел
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 2: Введение в РФЭС
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 3: Введение в спектры РФЭС
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 4: Количественный анализ спектров РФЭС
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 5: Характеристика образца
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 6: Влияние аппаратуры на спектры РФЭС
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 7: Фотоэлектронные линии
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 8: Расчет энергии связи
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию
    Лекция 9: Процесс релаксации
    / МИФИ / Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение