Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)

Учебный курс «Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии» предназначен для краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению  «Методы диагностики и исследования наноструктур».

Целью изучения курса является получение фундаментальных знаний в области электронно-спектроскопических исследований свойств наноматериалов – области знаний, имеющей большое значение для современного материаловедения, физики наноразмерных и молекулярных структур, физики и химии конденсированного состояния и тонких пленок. Задачи курса состоят в изучении первичной и вторичной структуры спектров.

Учебный курс «Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии» состоит из дистанционной и очной частей.

Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объёмом знаний по выбранной тематике. Задача дистанционной составляющей учебного курса – подготовить слушателя к очному посещению лаборатории в Московском инженерно-физическом институте.

В дистанционной (теоретической) части учебного курса изложен материал для изучения первичной и вторичной структуры спектров РФЭС. Теоретическая часть учебного курса состоит из двенадцати лекций.

Очная (экспериментальная) часть учебного курса заключается в ознакомлении со спектрометром XSAM-800 и программой обработки РФЭ спектров. Обзорные спектры. Идентификация элементов. Фитирование спектров остовных уровней. Основные задания на лабораторный практикум:

1. Установить и научиться работать с программой просмотра и обработки спектров Viewer на примере выданного файла обзорного и частичного спектров пленки молибдена, осажденной на поверхность высокоориентированного пиролизного графита (Mo/ВОПГ). Научиться определять положение спектральных линий, фиттировать спектральные линии функцией Гаусса, определять их основные характеристики (интенсивность и ширину на полувысоте).
2. Для выданного обзорного спектра неизвестного элемента/соединения определить найти наиболее интенсивные спектральные линии, определить их положения (ВЕ или КЕ), с помощью прилагаемых таблиц или баз данных в интернете идентифицировать данные пики. По совокупности данных определить, из каких элементов состоит неизвестный образец и предложить его состав (например, металлическая медь со адсорбированным на ее поверхности слоем углерода и кислрода, оксид кремния, и.т.д.)
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • Пройти курс
  • НОЦ
  • Автор(ы)
  • Направления программ повышения квалификации

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:

    Наименование
    Лекция 1: Обзорный спектр РФЭС
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 2: Форма спектральной линии
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 3: Спин-орбитальное расщепление уровней
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 4: Валентные уровни
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 5: Оже-переходы
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 6: Химический сдвиг энергии связи
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 7: Поверхностный сдвиг энергии связи
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 8: Размерный сдвиг энергии связи
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 9: Ложные и истинные пики
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 10: Сателлиты
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 11: Плазмонные колебания
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
    Лекция 12: Формирования заряда в образце
    / МИФИ / Спектры рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение