Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Сканирующая зондовая микроскопия

Учебный курс «Сканирующая зондовая микроскопия»  предназначен для краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению  «Методы диагностики и исследования наноструктур».

Целью изучения курса является изучение физических основ метода сканирующей зондовой  микроскопии – области знаний, имеющей большое значение для современного материаловедения, физики и химии тонких пленок, наноразмерных и молекулярных структур и его использования для исследования наноструктур и поверхности твердого тела. Задачи курса состоят в изучении основ методик сканирующей  зондовой микроскопии (СЗМ) – сканирующей туннельной микроскопии(СТМ) и атомно-силовой микроскопии(АСМ), особенностей проведения СЗМ измерений для исследования наноструктур и поверхности твердого тела.

Учебный курс «Сканирующая зондовая микроскопия» состоит из дистанционной и очной частей.

Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объёмом знаний по выбранной тематике. Задача дистанционной составляющей учебного курса – подготовить слушателя к очному посещению лаборатории в Московском инженерно-физическом институте.

В дистанционной (теоретической) части учебного курса изложены физические основы метода Сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Теоретическая часть учебного курса состоит из семи лекций.

Очная (экспериментальная) часть учебного курса заключается в получении практических навыков по обработке и СЗМ изображений с помощью программ, входящих в стандартные программные комплекты управления СЗМ прибором, получение практических навыков по проведению СЗМ измерений с помощью приборов с оптической и частотно-модуляционной методикой регистрации сигнала.

1. Установить и научиться работать с программами обработки данных в комплекте программ  прибора СММ2000 (Протон-МИЭТ) и прибора Nanoeducator (НТ-МДТ), на примере СЗМ изображений тестовых поверхностей: поверхность дифракционной решетки, зеркала, пирографита, слюды.
2. Ознакомление с процедурой подготовки к измерениям и управления измерениями с использованием СЗМ прибора СММ2000 (Протон-МИЭТ) и прибора Nanoeducator (НТ-МДТ), ознакомится с основными функциями программ управления этими приборами. Проведение СЗМ измерения с характерным размером области сканирования порядка 1 мкм х 1 мкм на приготовленных образцах на подложке. Обработка результатов.
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • Пройти курс
  • НОЦ
  • Автор(ы)
  • Направления программ повышения квалификации

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение