Внимание! Сайт работает в тестовом режиме.


 

 

 
Авторизация
Логин:
Пароль:
Регистрация
Забыли свой пароль?

Поиск по сайту
 
Расширенный поиск
 

Вернуться назад

Определение элементного состава веществ методом рентгенофлуоресцентного анализа

Учебный курс «Определение элементного состава веществ методом рентгенофлуоресцентного анализа» предназначен для краткосрочного повышения квалификации преподавателей и научных работников высшей школы по направлению  «Методы диагностики и исследования наноструктур».

Целью данного курса является изучение физических основ метода РФА и его применение в исследовании различных материалов, формирование навыков самостоятельного проведения рентгенофлуоресцентного анализа. Лабораторный практикум по развитию практических навыков работы на современном исследовательском оборудовании проводится с использованием различных экспериментальных образцов.

Учебный курс «Определение элементного состава веществ методом рентгенофлуоресцентного анализа» состоит из дистанционной и очной частей.

Дистанционная часть учебного образовательного курса обеспечивает слушателя необходимым объемом знаний по выбранной тематике, включая подготовку слушателя к проведению лабораторного практикума. Задачей изучения дистанционной части учебного курса является изучение физических основ флуоресцентного анализа, знакомство с устройством и принципами работы рентгенофлуоресцентных спектрометров. В дистанционной (теоретической) части курса рассмотрены физические основы РФА - спектры испускания лучей, характеристические рентгеновские спектры, закон Мозли, относительные интенсивности линий характеристического рентгеновского спектра, спектры поглощения рентгеновских лучей, взаимодействие рентгеновского излучении с веществом, процесс рассеяния рентгеновского излучения, ионизация, Оже – эффект и выход флуоресценции, флуоресценция; методы регистрации интенсивности рентгеновского спектра - фотографический и ионизационный методы, метод монитора, метод ширины стандартной линии, чувствительность современных методов флуоресцентного анализа, анализ спектров, аппаратура для спектрального анализа - принципы построения рентгеновского флуоресцентного спектрометра и основные узлы спектрометра, рентгеновская трубка, дисперсионное устройство и детекторы рентгеновского излучения на примере рентгенофлуоресцентного спектрометра АRL OPTIM'X. Рассмотрены основные моменты подготовки жидких, твердых, сыпучих проб для рентгенофлуоресцентного анализа, а так же факторы, влияющие на величину ошибки пробоподготовки. В данном курсе изложен принцип качественного анализа элементов и факторы, влияющие на интенсивность флуоресценции, дано краткое описание выполнения сканирования с помощью программы WinXRF и использование метода в исследовании элементного состава металлических, порошкообразных, жидких материалов.

В лабораторный практикум входит изучение принципа работы и устройства рентгеновского флуоресцентного спектрометра ARL OPTIM’X (Швейцария), подготовка жидких, твердых и сыпучих проб для анализа (измельчение, прессование, шлифование, полировка, фрезерование). В ходе практических занятий будут поставлены следующие задачи: качественное определение элементного состава вещества методом снятия сканов, условия оптимального выбора кристалла, детектора, коллиматора при выполнении сканирования, (определение среднеквадратичного отклонения), определение концентрации элементов в  стандартных образцах и неизвестных пробах экспресс-методом.
  • Объем (в часах)
  • Шифр
  • Рекомендован для
  • Характер и сложность представленного материала
  • Требования
  • НОЦ
  • Автор(ы)
  • Направления программ повышения квалификации

    Вернуться назад



    Реферативное содержание лекций:


     
     
    Объявления

    Вниманию научных и научно-педагогических работников высшей школы!
    С 1 июля 2010 г открыта возможность краткосрочного повышения квалификации для работников высшей школы по направлению нанотехнологий с помощью межуниверситетской сетевой системы маршрутного обучения

     

     © 2009 НАНООБР
    Междисциплинарное обучение